Texas Instruments SN74BCT8374ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

চীন
পেশাদার ইলেকট্রনিক উপাদান সরবরাহকারী

ক্যাটালগ নির্মাতারা CN ICs

চিত্রটি উপস্থাপনা হতে পারে৷
পণ্যের বিবরণের জন্য স্পেসিফিকেশন দেখুন৷.

আরও তথ্য দেখুন ডেটাশিট

SN74BCT8374ANTG4

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

অংশ সংখ্যা

SN74BCT8374ANTG4

প্রস্তুতকারক/ব্র্যান্ড

Texas Instruments

সিরিজ

74BCT

পার্ট স্ট্যাটাস

Obsolete

প্যাকেজিং

Tube

অপারেটিং তাপমাত্রা

0°C ~ 70°C

মাউন্ট টাইপ

Through Hole

প্যাকেজ/কেস

24-DIP (0.300", 7.62mm)

সরবরাহকারী ডিভাইস প্যাকেজ

24-PDIP

সরবরাহ ভোল্টেজ

4.5 V ~ 5.5 V

বিটের সংখ্যা

লজিক টাইপ

Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops

অনুরোধ উদ্ধৃতি

অনুগ্রহ করে সমস্ত প্রয়োজনীয় ক্ষেত্রগুলি পূরণ করুন এবং জমা দিন ক্লিক করুন, আমরা 12 ঘন্টার মধ্যে ইমেলের মাধ্যমে আপনার সাথে যোগাযোগ করব৷ আপনার যদি কোনো সমস্যা হয়, তাহলে অনুগ্রহ করে [email protected] কে বার্তা বা ইমেল করুন, আমরা যত তাড়াতাড়ি সম্ভব প্রতিক্রিয়া জানাব।

স্টকে 30427 PCS

যোগাযোগের তথ্য

সংশ্লিষ্ট পণ্য

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC