Texas Instruments SN74BCT8240ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

চীন
পেশাদার ইলেকট্রনিক উপাদান সরবরাহকারী

ক্যাটালগ নির্মাতারা CN ICs

চিত্রটি উপস্থাপনা হতে পারে৷
পণ্যের বিবরণের জন্য স্পেসিফিকেশন দেখুন৷.

আরও তথ্য দেখুন ডেটাশিট

SN74BCT8240ANTG4

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

অংশ সংখ্যা

SN74BCT8240ANTG4

প্রস্তুতকারক/ব্র্যান্ড

Texas Instruments

সিরিজ

74BCT

পার্ট স্ট্যাটাস

Obsolete

প্যাকেজিং

Tube

অপারেটিং তাপমাত্রা

0°C ~ 70°C

মাউন্ট টাইপ

Through Hole

প্যাকেজ/কেস

24-DIP (0.300", 7.62mm)

সরবরাহকারী ডিভাইস প্যাকেজ

24-PDIP

সরবরাহ ভোল্টেজ

4.5 V ~ 5.5 V

বিটের সংখ্যা

লজিক টাইপ

Scan Test Device with Inverting Buffers

অনুরোধ উদ্ধৃতি

অনুগ্রহ করে সমস্ত প্রয়োজনীয় ক্ষেত্রগুলি পূরণ করুন এবং জমা দিন ক্লিক করুন, আমরা 12 ঘন্টার মধ্যে ইমেলের মাধ্যমে আপনার সাথে যোগাযোগ করব৷ আপনার যদি কোনো সমস্যা হয়, তাহলে অনুগ্রহ করে [email protected] কে বার্তা বা ইমেল করুন, আমরা যত তাড়াতাড়ি সম্ভব প্রতিক্রিয়া জানাব।

স্টকে 41154 PCS

যোগাযোগের তথ্য

সংশ্লিষ্ট পণ্য

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC